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產(chǎn)品資料
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日本ae-mic超低電阻測試儀

產(chǎn)品名稱: 日本ae-mic超低電阻測試儀
產(chǎn)品型號: AE-1152D_11C
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本ae-mic超低電阻測試儀
自動測量超低電阻的醉佳選擇
配備BIN功能，判斷結(jié)果可以分為11類

日本ae-mic超低電阻測試儀 的詳細(xì)介紹

日本ae-mic超低電阻測試儀

 

  • 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。
  • 取消對熱電效應(yīng)的測量
  • 脈沖測量電流，以減少測量端子的自熱和磨損
  • 接觸檢查功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
  • 測量：0.0000mΩ?1.5000kΩ
  • ％測量值：0.1mΩ?1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
  • GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）
  • 配備BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分類11個(gè)），集電極開路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
  • 移位輸出可能

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

測量范圍測量范圍解析度實(shí)測電流測量精度
1毫歐0.0000mΩ?1.5000mΩ0.1微歐3A±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega）
±3Digit [平均] 
±4位數(shù)[SLOW] 
±5digit [快]
內(nèi)
10毫歐0.000mΩ至15.000mΩ1微歐1A
100毫歐0.00mΩ至150.00mΩ10微歐
1Ω0.0000Ω?1.5000Ω100微歐100毫安
10Ω0.000Ω至15.000Ω1毫歐
100Ω0.00Ω至150.00Ω10毫歐10毫安
1KΩ0.0000kΩ至1.5,000kΩ100毫歐1毫安
％0.1mΩ?1kΩ/±50.00％0.01％[10nΩ]看上面參考規(guī)格
測量端子開路電壓5V以下
測量方式4端子測量[可進(jìn)行接觸檢查]
采樣時(shí)間[自由運(yùn)行] 2至10次/秒
[外部啟動]大約9毫秒-400毫秒。
比較器設(shè)定范圍上限和下限均為[0至15000]，
％范圍：低0至-50％，高0至+ 50％
比較器判斷結(jié)果顯示[BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器
控制信號測量開始信號：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
保持信號：斷開，“ H” [DC12V]：自由運(yùn)行，“ L” [0V]：保持
判斷結(jié)果信號[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1] 
：集電極開路輸出max40V，100mA
接觸錯(cuò)誤[CONT-E]：
集電極開路輸出大40V，100mA
測量結(jié)束信號[EOC]：集電極開路輸出大40V，100mA
周邊環(huán)境溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下
需要電源AC85V-265V，50-60HZ，約60VA
外形尺寸333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
重量約3kg
選項(xiàng)? RS-232C這些選項(xiàng)中 只有
一個(gè)
可以內(nèi)置。
? GP-IB
?打印機(jī)輸出（Centronics）
?打印機(jī)電纜
?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻）

 日本ae-mic超低電阻測試儀

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