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日本太陽(yáng)科學(xué)口紅折段度測(cè)試質(zhì)構(gòu)儀SD-700II

質(zhì)構(gòu)儀是客觀評(píng)價(jià)樣品物性特征*的一種手段，可通過(guò)統(tǒng)一的測(cè)試方法，對(duì)樣品物性特征作出數(shù)據(jù)化的準(zhǔn)確描述，見(jiàn)表1。質(zhì)構(gòu)儀主要由主機(jī)、探頭和附件等硬件設(shè)備以及專(zhuān)用軟件組成。主機(jī)上有一個(gè)可以上下滑動(dòng)的機(jī)械臂，末端通過(guò)力學(xué)傳感器與探頭相連。實(shí)驗(yàn)時(shí)，機(jī)械臂根據(jù)設(shè)定的速度上下移動(dòng)，探頭會(huì)在接觸樣品時(shí)受到一個(gè)作用力，力學(xué)傳感器實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)，由軟件記錄力-位移、力-時(shí)間或位移-時(shí)間曲線(xiàn)圖，檢測(cè)結(jié)果具有較高的靈敏度與客觀性，見(jiàn)圖1。