日本densoku渦電流式膜厚計 D-20

日本densoku渦電流式膜厚計 D-20

渦電流式膜厚計 D-20

コンパクトで攜帯可能
短時間測定で時代のニーズに応える膜厚計

?重量2.0kgの軽量コンパクト 
?スイッチを入れると同時に測定開始、測定時間も1秒以內(nèi) 
?水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度 
?非破壊だから全數(shù)検査が可能 
?直読式だから換算不要

渦電流式膜厚計 D-20 の特長

軽量コンパクト

攜帯ができます。

すぐに測定が可能

スイッチを入れると同時に測定が可能。測定時間も1秒以內(nèi)です。

高安定（±1％）高精度

水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度。

全數(shù)検査が可能

非破壊ですので全數(shù)検査ができます。

換算の必要なし

直読式で換算の必要がありません。

多様な測定に対応

金屬上の皮膜、めっき、塗裝、樹脂等の測定ができます（例：アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗裝）。

各種専用測定器になる

スケール板を取り替えるだけで、各種専用測定器になります。

測定面積3m㎡以上

測定面積3m㎡以上のものに対応。

非金屬上の金屬皮膜も測定

非金屬上の金屬皮膜（例　プラスチック上のめっき）の測定ができます。

曲面、球面體、パイプの內(nèi)部でも測定可能

曲面、球面體でも測定可能です。また、パイプ等內(nèi)面も測定できます（φ12.7mm以上）。

測定原理

高周波電流を流したプローブ（測定子コイル）を金屬に接近させると、金屬表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強(qiáng)さ、周波數(shù)、その金屬の導(dǎo)電性、厚さ、形狀等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。 そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、メーターで表示します。こうすることによりメーターの振れから膜厚値を読み取ることができます。膜厚値とメータの振れは一般に比例していませんので、直読目盛板を使用して、膜厚値を直接読み取ります。

渦電流式膜厚計 D-20 の仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。

渦電流式膜厚計 D-20 のプローブ仕様