日本densoku電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231
日本densoku電気抵抗式膜厚計(jì) RST-231
操作が簡(jiǎn)単で短時(shí)間(0.7秒)
絶縁物上の金屬皮膜を高精度に測(cè)定
?絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測(cè)定
?パソコン使用で見やすい畫面
?較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単
?ヒストグラム、プロファイルなどすぐに閲覧可能
?異常値検知機(jī)能
絶縁物上の金屬皮膜を0.7秒で測(cè)定
絶縁物上の金屬皮膜(プリント基板の銅箔?めっきなど)を短時(shí)間(0.7秒)に高精度で測(cè)定します。
見やすい畫面構(gòu)成
パソコン使用で畫面が大きく、明るく、見やすい畫面構(gòu)成です。
較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単
較正や測(cè)定が簡(jiǎn)単。2種類の測(cè)定レンジが選択できます(2~24μm、10~120μm)。
各種図がすぐに見られる
統(tǒng)計(jì)処理後、ヒストグラム、プロファイル、x-R管理図がいつでもすぐに見られます。
異常値検知機(jī)能
膜厚の上下限を設(shè)定しておくと異常値に対して通知します。
探針1本ごとに交換に対応
プローブの探針を破損した場(chǎng)合、探針1本ごとに交換でき低価格での修理が可能です。
統(tǒng)計(jì)処理が容易
測(cè)定データをチャンネルごとに保存でき、測(cè)定データに対し後から統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目を設(shè)定し統(tǒng)計(jì)処理を行なうことができます。
40チャンネルまで登録可能
40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や部品番號(hào)などにより別々の登録をしてチャンネルの管理ができます。
探針1本ごとに交換に対応
4探針プローブ(ケルビン式)を採(cǎi)用しており、両面基盤や多層基盤も裏面や內(nèi)部層の影響を受けず高精度の測(cè)定ができます。
ヒストグラム
x-R管理図
統(tǒng)計(jì)量表示
探針間隔 | 探針先端 | |
KD-110 | 1mm | 0.1R ※標(biāo)準(zhǔn)品 |
KD-105 | 1mm | 0.05R |
KD-120 | 1mm | 0.2R |
KD-210 | 2mm | 0.1R |
KD-220 | 2mm | 0.2R |
プローブには直線上に4本の金屬ピン(探針)立っています。 この4本の探針を測(cè)定する絶縁物上の金屬箔や金屬めっき面に接觸させます。外側(cè)の2本探針に一定の電流(I)を流し、電圧(V)を測(cè)定します。探針を接觸させている金屬箔や金屬めっきの厚さ(T)は、一定の條件下では下記の式で計(jì)算できます。 T = K × I ÷ V ここではKは定數(shù) 従って、內(nèi)側(cè)の2本の探針間の電圧を測(cè)定すれば、金屬箔や金屬めっきの厚さを測(cè)定できます。 |
型式(本體) | RST-231型 |
測(cè)定原理 | 4探針電気抵抗式 |
測(cè)定レンジ | 2~24μm、10~120μm |
チャンネル數(shù) | 40チャンネル |
データ容量 | 100,000データ |
表示 | パソコンモニタ畫面による |
統(tǒng)計(jì)処理 | 大値、小値、平均値、標(biāo)準(zhǔn)偏差、ヒストグラム、上下限値設(shè)定 |
電源 | AC100~240V 50/60Hz、10VA(本體) |
寸法 | 280(W)x230(D)x88(H) (本體) |
付屬品 | 4探針プローブ KD-110 標(biāo)準(zhǔn)板 TCU-145 |
(注)仕様は予告なく変更されることがあります。
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